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LCR測(cè)試儀

阻抗分析儀 LCR電橋磁性元件分析儀電容測(cè)試儀

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AT2816B安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT2816B

人氣：419

安柏LCR數(shù)字電橋AT2816B采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。
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AT2816A安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT2816A

人氣：495

安柏LCR數(shù)字電橋AT2816A采用了ARM處理器，真彩 TFT-LCD，全中文操作界面(可配置成英文界面)，使儀器操作簡(jiǎn)單但處理能力強(qiáng)大。
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AT2811安柏LCR數(shù)字電橋

更新時(shí)間：2023-10-08

型號(hào)：AT2811

人氣：561

安柏LCR數(shù)字電橋AT2811是通用LCR數(shù)字電橋，是經(jīng)濟(jì)型微型臺(tái)式儀器。測(cè)試頻率： 100Hz，120Hz，1kHz和10kHz，0.1V、0.3V 和 1V 電平可選，30Ω、100Ω源內(nèi)阻可選。
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LCR-6300固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：LCR-6300

人氣：481

固緯LCR測(cè)試儀LCR-6000系列，該系列提供測(cè)試頻率從2kHz ~300kHz，共5個(gè)機(jī)型。整體設(shè)計(jì)小型化，是本系列的特色之一（2U）,1/2 Rack，無論是放置在桌上使用、或是架設(shè)在系統(tǒng)中。雖然LCR-6000系列小型化了，但它所能提供的多樣豐富的特色，可廣泛使用于被動(dòng)組件測(cè)試的各階段，如R&amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;D、生產(chǎn)測(cè)試、入料檢驗(yàn)…等。
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LCR-6200固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：LCR-6200

人氣：491

固緯LCR測(cè)試儀LCR-6000系列，該系列提供測(cè)試頻率從2kHz ~300kHz，共5個(gè)機(jī)型。整體設(shè)計(jì)小型化，是本系列的特色之一（2U）,1/2 Rack，無論是放置在桌上使用、或是架設(shè)在系統(tǒng)中。雖然LCR-6000系列小型化了，但它所能提供的多樣豐富的特色，可廣泛使用于被動(dòng)組件測(cè)試的各階段，如R&amp;amp;amp;amp;amp;D、生產(chǎn)測(cè)試、入料檢驗(yàn)…等。
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LCR-6100固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：LCR-6100

人氣：435

固緯LCR測(cè)試儀LCR-6000系列，該系列提供測(cè)試頻率從2kHz ~300kHz，共5個(gè)機(jī)型。整體設(shè)計(jì)小型化，是本系列的特色之一（2U）,1/2 Rack，無論是放置在桌上使用、或是架設(shè)在系統(tǒng)中。雖然LCR-6000系列小型化了，但它所能提供的多樣豐富的特色，可廣泛使用于被動(dòng)組件測(cè)試的各階段，如R&amp;amp;amp;D、生產(chǎn)測(cè)試、入料檢驗(yàn)…等。
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LCR-6020固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：LCR-6020

人氣：436

固緯LCR測(cè)試儀LCR-6000系列，該系列提供測(cè)試頻率從2kHz ~300kHz，共5個(gè)機(jī)型。整體設(shè)計(jì)小型化，是本系列的特色之一（2U）,1/2 Rack，無論是放置在桌上使用、或是架設(shè)在系統(tǒng)中。雖然LCR-6000系列小型化了，但它所能提供的多樣豐富的特色，可廣泛使用于被動(dòng)組件測(cè)試的各階段，如R&amp;D、生產(chǎn)測(cè)試、入料檢驗(yàn)…等。
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LCR-6002固緯LCR測(cè)試儀

更新時(shí)間：2023-10-07

型號(hào)：LCR-6002

人氣：436

固緯LCR測(cè)試儀LCR-6000系列，該系列提供測(cè)試頻率從2kHz ~300kHz，共5個(gè)機(jī)型。整體設(shè)計(jì)小型化，是本系列的特色之一（2U）,1/2 Rack，無論是放置在桌上使用、或是架設(shè)在系統(tǒng)中。雖然LCR-6000系列小型化了，但它所能提供的多樣豐富的特色，可廣泛使用于被動(dòng)組件測(cè)試的各階段，如R&D、生產(chǎn)測(cè)試、入料檢驗(yàn)…等。
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